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双层平板探测的双能成像检测系统
现代应用光学 | 更新时间:2022-02-26
    • 双层平板探测的双能成像检测系统

    • Dual energy imaging inspection system using dual layer flat panel detector

    • 光学精密工程   2022年30卷第4期 页码:372-379
    • DOI:10.37188/OPE.20223004.0372    

      中图分类号: TH774;TP751.1
    • 收稿日期:2021-07-08

      修回日期:2021-07-26

      纸质出版日期:2022-02-25

    移动端阅览

  • 蓝重洲,王宗朋,文敏儒.双层平板探测的双能成像检测系统[J].光学精密工程,2022,30(04):372-379. DOI: 10.37188/OPE.20223004.0372.

    LAN Chongzhou,WANG Zongpeng,WEN Minru.Dual energy imaging inspection system using dual layer flat panel detector[J].Optics and Precision Engineering,2022,30(04):372-379. DOI: 10.37188/OPE.20223004.0372.

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