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等离子体诊断用多层膜X射线成像光学研究进展
更新时间:2022-11-22
    • 等离子体诊断用多层膜X射线成像光学研究进展

    • Research progress of multilayer X-ray imaging optics for plasma diagnostics

    • 光学精密工程   2022年30卷第21期 页码:2783-2792
    • DOI:10.37188/OPE.20223021.2783    

      中图分类号: O434.1
    • 收稿日期:2022-07-15

      修回日期:2022-08-18

      纸质出版日期:2022-11-10

    移动端阅览

  • 伊圣振,黄秋实,齐润泽等.等离子体诊断用多层膜X射线成像光学研究进展[J].光学精密工程,2022,30(21):2783-2792. DOI: 10.37188/OPE.20223021.2783.

    YI Shengzhen,HUANG Qiushi,QI Runze,et al.Research progress of multilayer X-ray imaging optics for plasma diagnostics[J].Optics and Precision Engineering,2022,30(21):2783-2792. DOI: 10.37188/OPE.20223021.2783.

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相关作者

王占山
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王占山

相关机构

同济大学 物理科学与工程学院 精密光学工程技术研究所 先进微结构材料教育部重点实验室
中国科学院 上海光学精密机械研究所 高功率单元技术研发中心
上海应用技术学院 理学院
同济大学 精密光学工程技术研究所 物理系
中国科技大学 国家同步辐射实验室
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