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光栅干涉精密纳米测量技术
精密测量与传感 | 更新时间:2024-10-17
    • 光栅干涉精密纳米测量技术

    • Grating interferometric precision nanometric measurement technology

    • 光栅干涉测量技术在精密纳米测量领域取得重要进展,专家分析了精度和误差,为系统开发提供参考。
    • 光学精密工程   2024年32卷第17期 页码:2591-2611
    • DOI:10.37188/OPE.20243217.2591    

      中图分类号: TH744.3;TN247
    • 收稿日期:2024-04-17

      修回日期:2024-05-25

      纸质出版日期:2024-09-10

    移动端阅览

  • 李星辉,崔璨.光栅干涉精密纳米测量技术[J].光学精密工程,2024,32(17):2591-2611. DOI: 10.37188/OPE.20243217.2591.

    LI Xinghui,CUI Can.Grating interferometric precision nanometric measurement technology[J].Optics and Precision Engineering,2024,32(17):2591-2611. DOI: 10.37188/OPE.20243217.2591.

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